Για επισκέπτες στο Electronica 2024

Κλείστε το χρόνο σας τώρα!

Το μόνο που χρειάζεται είναι μερικά κλικ για να κάνετε κράτηση για τη θέση σας και να πάρετε το εισιτήριο περίπτερο

Hall C5 Booth 220

Προκαταβολή

Για επισκέπτες στο Electronica 2024
ΕΙΝΑΙ ΟΛΟΙ ΕΓΓΡΑΦΕΤΕ! Σας ευχαριστούμε που κάνατε ραντεβού!
Θα σας στείλουμε τα εισιτήρια για το ηλεκτρονικό ταχυδρομείο μόλις επιβεβαιώσουμε την κράτησή σας.
Σπίτι > Προϊόντα > Ολοκληρωμένα κυκλώματα (ICS) > Λογική - ειδικότητα λογική > SN74BCT8244ADWE4
RFQs/παραγγελία (0)
Ελλάδα
Ελλάδα
5767210

SN74BCT8244ADWE4

Αίτημα παράθεσης

Συμπληρώστε όλα τα απαιτούμενα πεδία με τα στοιχεία επικοινωνίας σας.Ή στείλτε μας email:info@ftcelectronics.com

Τιμή αναφοράς (σε δολάρια ΗΠΑ)

Σε απόθεμα
50+
$10.325
Έρευνα Online
ΠΡΟΔΙΑΓΡΑΦΕΣ
  • Αριθμός εξαρτήματος
    SN74BCT8244ADWE4
  • Κατασκευαστής / Μάρκα
  • Ποσότητα αποθεμάτων
    Σε απόθεμα
  • Περιγραφή
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS
    Ο μόλυβδος ελεύθερος / συμβατός με RoHS
  • Μοντέλο ECAD
  • Τάση τροφοδοσίας
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Συσκευασία της συσκευής με τον προμηθευτή
    24-SOIC
  • Σειρά
    74BCT
  • Συσκευασία
    Tube
  • Συσκευασία / υπόθεση
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Θερμοκρασία λειτουργίας
    0°C ~ 70°C
  • Αριθμός Bits
    8
  • τοποθέτηση Τύπος
    Surface Mount
  • Επίπεδο Ευαισθησίας Υγρασίας (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Κατασκευαστής Standard Lead Time
    6 Weeks
  • λογική Τύπος
    Scan Test Device with Buffers
  • Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Λεπτομερής περιγραφή
    Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  • Αριθμός μέρους βάσης
    74BCT8244
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

Περιγραφή: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT760N

SN74BCT760N

Περιγραφή: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT760MDWREP

SN74BCT760MDWREP

Περιγραφή: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Περιγραφή: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Κατασκευαστές: Luminary Micro / Texas Instruments
Σε απόθεμα

Επιλέξτε γλώσσα

Κάντε κλικ στο χώρο για έξοδο